首页
产品中心
AOI设备
自动化
软件系统
设备应用
关于九纵
新闻中心
人力资源
联系我们
400-0391-390
英文：ENGLISH
Hawkeye-WAP8055
晶圆2D&3D检测系统
• 自研PL荧光光源 • 3D Bump量测 • 满足Wafer层叠检测
查看详情
+
Hawkeye-WST6055
晶圆2D缺陷检测系统
• 兼容frame wafer • IR隐裂支持 • INK点墨支持
Tiercel-BGL-1520
焊线检测设备
• 物料弹夹绑定功能 • 2D/3D融合检测 • 兼容不同材质产品
Hawkeye-SMP4512
条状检测机
• 多种上料方式可选 • 多组合打光和深度学习算法 • 误动作报警 • 支持不良标注及mapping
Hawkeye-TCP6010TR/TCP6010TT
Tray to Tray&Reel芯片检测设备
• 六面外观检测 • 2D/3D功能配置可选 • 自动收编带
Hawkeye-IGT3150
IGBT模组检测
• 采用多组合打光和深度学习算法 • 兼容基板和模组检测 • 检测稳定性高 • 检测速度快
Tiercel-RTR-ZD-13130
编带检测机
• 定制光谱光源 • 飞拍检测 • 支持产品快换
OCR检测机
• 定制相机 • 数据上传 • 支持多种文字识别
Hawkeye-PLT3215
Tray盘自动包装线
• 模块化设计 • 可兼容不同层高tray • 柔性化设计 • 实时智能追踪 • 对标签/干燥剂/湿度卡进行自动缺陷检测
Marking检测系统
• 宽幅线阵相机 • 数据上传 • 支持多种文字识别
