AOI设备

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晶圆2D&3D检测系统


• 自研PL荧光光源<br> • 3D Bump量测<br> • 满足Wafer层叠检测<br>

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晶圆2D缺陷检测系统


• 兼容frame wafer<br> • IR隐裂支持<br> • INK点墨支持<br>

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焊线检测设备


• 物料弹夹绑定功能<br> • 2D/3D融合检测<br> • 兼容不同材质产品<br>

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条状检测机


• 多种上料方式可选<br> • 多组合打光和深度学习算法<br> • 误动作报警<br> • 支持不良标注及mapping<br>

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